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SIS mode ( Scanning Intelligent Scan )
1. 有效解决传统 Tapping Mode 探针在样品表面上直接拖曳的缺陷
2. 有效减少探针侧向推力
3. 只在用户设定的画素点才接触样品表面,有效减少探针磨耗
4. 探针具备主动迴避机制 (上坡减速与闪避)
5. 毋须设定繁複之扫描参数,SIS 具备自动控制速度机制


 
用途
1. 软质样品 ( 如高分子、塑橡胶、生物样品 .... 等 )
2. 黏性样品 ( 如胶类、高分子、生物样品 .... 等 )
3. 表面起伏大的样品
4. 需要大范围扫描的样品 ( 如 >20µm 之 XY 扫描 )
5. 结构陡峭之样品
6. 使用奈米碳管探针时
7. 其他不易量测之样品 

 
适用机种
BET9九州入口5100N、BET9九州入口5300E 与 BET9九州入口5400L 之全面标准配备
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